1. 根据需求，完成芯片的DFT设计； 2. 负责SCAN/MBIST/Boundary SCAN/Hard Macro Test等DFT功能实现； 3. 负责DFT的时序约束优化收敛； 4. 负责DFT测试向量的生成/验证，覆盖率与测试时间的优化； 5. 负责测试向量调试与良率提升。

1. 计算机/微电子/电路与系统等芯片设计相关专业, 本科5年/硕士3年相关工作经验; 2. 具有SOC DFT设计经验，熟悉以下至少一种DFT设计，SCAN/MBIST/Boundary SCAN/Hard Macro Test； 3. 熟悉Synopsys/Mentor 相关工具的实现/验证流程及使用； 4. 熟悉PCIE/DDR测试者，熟悉时序优化者优先； 5. 具有大型SOC或CPU/AI芯片经验者优先; 6. 具有芯片ATE 测试向量调试/良率提升经验者优先； 7. 熟悉脚本运用者优先。 7. 熟悉脚本运用者优先。