1. 根据半导体量检测领域的技术需求，基于传统图像处理及深度学习技术，负责纳米尺度缺陷识别算法的开发、优化与提升，实现亚像素级别精度的量检测任务； 2. 研究和开发图像质量评估模型，输出准确的图像清晰度评价指标；研究和开发图形图像像素渲染算法； 3. 将研发的算法和模型集成到现有的半导体量检测系统中，确保系统的高效运行，并提供技术支持和维护； 4. 整理和归档相关技术文件； 5. 撰写相关专利文件； 6. 完成领导交办的其他工作。

1. 计算机科学、电子工程、图像处理或相关领域的硕士及以上学历；熟练使用C/C++，具有底层算法开发与维护能力，熟悉opencv等算法库，熟练掌握数字图像处理算法，具有机器学习与深度学习相关经验； 2. 熟悉图像处理和计算机视觉的基本理论和方法，在图像生成、图像识别、超分辨率等领域有研究与应用经验； 3. 掌握深度学习框架（如TensorFlow、PyTorch），了解AIGC图像生成的应用，熟悉生成对抗网络（GANs）； 4. 具备扎实的编程能力，能够独立开发和调试复杂的图像处理算法和系统； 5. 具备良好的团队合作精神，能够与跨学科团队成员有效沟通。